X 射线衍射（XRD）物相分析

测试内容：常规 θ-2θ 扫描（2θ 10°–80°）、物相检索（PDF 卡片）、结晶度与 Scherrer 晶粒尺寸计算、晶格参数精修（可选）。 适用样品：粉体、块体、薄膜；粉体需研磨至 ≤45 μm。 交付内容：原始谱图（txt/xy）、物相检索结果、结晶度/晶粒尺寸表、测试报告。

粉体 ≥1 g（研磨过 300 目）；块体 ≤20×20×5 mm；薄膜请注明衬底与膜厚。

正极材料物相纯度评价：XRD 物相检索 + 晶格参数精修，确认杂相含量低于 1%。