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SEM-EDS 微区成分分析

SEM-EDS 微区成分分析

仪器型号

蔡司 Sigma 300 + Bruker XFlash 6|30

已预约

288 次

常规周期

2-3 个工作日

样品方式

需要寄样

满意度

98%

测试内容:EDS 点分析、线扫描、面分布(Mapping),检出限约 0.1 wt%(B–U 元素范围)。 适用样品:与 SEM 制样要求一致,可与形貌观察同批次进行。 交付内容:元素面分布图、谱图与定量表、测试报告。

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