X 射线光电子能谱（XPS）表面分析

测试内容：全谱定性（检出限约 0.1 at%）、高分辨窄谱化学态拟合、Ar 离子溅射深度剖析。 适用样品：薄膜、粉体、块体表面；样品需真空兼容、无挥发性。 交付内容：全谱与窄谱原始数据（VGS/AVANTAGE 格式）、分峰拟合结果、测试报告。

片状 ≤10×10×3 mm 或粉体 ≥20 mg；请说明是否允许溅射（不可溅射请注明）。

不锈钢钝化膜 Cr/Fe 化学态分析：窄谱拟合并结合溅射深度剖析，评价钝化处理工艺。