高分辨透射电镜（HRTEM）晶格分析

测试内容：高分辨晶格像、FFT 傅里叶变换标定、晶面间距测量、位错/层错等缺陷观察。 适用样品：晶体材料、纳米晶、异质界面、外延薄膜。 交付内容：高分辨图片、FFT 标定结果、晶面间距数据表、测试报告。

要求样品厚度 <100 nm（可代制）；请提供目标物相的晶型信息辅助标定。

钙钛矿薄膜外延关系标定：HRTEM 界面晶格像 + FFT 标定，确认外延生长取向。