透射电镜（TEM）成像与结构分析

测试内容：明场/暗场成像、选区电子衍射（SAED）、EDS 点/线/面成分分析；点分辨率 0.24 nm。 适用样品：纳米颗粒、纳米线、薄膜截面、粉体分散样品；需制超薄样品（可提供制样服务）。 交付内容：标注版图片（每组不少于 8 张）、衍射数据、原始数据包、测试报告。

粉体 ≥5 mg（分散制样）；块体需超声切片或离子减薄（可代做，费用另计）；液体分散液请注明浓度。

催化剂纳米颗粒粒径与分散性评价：TEM 成像 + 粒径统计直方图，支撑载体重构工艺验证。